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OmniScan X3全聚焦相控阵探伤仪

产品时间:2020-08-31

简要描述:

OmniScan X3全聚焦相控阵探伤仪是一款功能齐备的相控阵工具箱。这款仪器所提供的性能强大的工具,如:全聚焦方式(TFM)图像和高级成像功能,可使用户更加充满信心地完成检测。

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       OmniScan X3全聚焦相控阵探伤仪

基本特性

  • 机载TOFD(衍射时差)功能

  • 2个UT通道

  • 通过坠落测试,符合IP65评级标准

  • 8组声束设置

  • 与现有扫查器和探头相兼容

  • 16:128PR配置或32:128PR配置

  • 符合ISO 18563‑1:2015和EN12668‑1:2010

可提升效率的创新特性

  • 通过全矩阵捕获(FMC)功能可以采集到全聚焦方法(TFM)图像(可支持64个晶片的孔径)

  • 4 GB的大文件容量,64 GB的内存

  • 精心设计的软件,大大减少了按键的次数

  • 在单一工作流程中创建整个扫查计划

  • 通过“单扫”方式,快速采集校准的包络线

  • 1024个聚焦法则

 

 

焊缝

  • 通过多组声束设置视图,核查是否可以正确覆盖焊缝区域

  • 波幅范围可被扩展到800  %,因此用户无需再次扫查部件, 就可以对饱和的指示信号进行表征,如:未熔合的指示信 号。

  • 支持多探头配置和不同的触发方案,从而可以更好地覆盖每 个焊缝区域

  • 焊缝闸门可以突出显示需要关注的区域

 

腐蚀

  • 很高的采集速度,可以更方便地检测较大的管道或容器

  • 4 GB单个文件容量,可以减少中断操作的次数,并采集到 更多的数据

  • 与所有腐蚀扫查器相兼容

  • 支持双晶线性阵列探头,从而可获得改进的近表面分辨率

 

复合材料

  • 高波幅范围(800  %)和16比特数字转换器可以在检测衰减 性较强的材料时,获得更宽泛的动态检测范围

  • TCG动态范围可达65 dB,且提供经过改进的TCG表格视 图,以对各个点进行手动编辑

  • 12 kHz的扫查速度,可以在较大的扫查区域中快速采集数据

  • 对很宽的脉冲宽度进行控制,以优化对低频探头的使用

 

 

OmniScan X3全聚焦相控阵探伤仪除了继承以往系列仪器可靠、便利、防水、防尘等优点外,在图像质量方面取得了长足的进步。针对形状复杂工件的检测难点,OmniScan X3通过使用64晶片孔径支持的全聚焦方式(TFM),让用户可以获得工件各部分更清晰的图像,并可以将这些进行图像融合,生成正确反映工件的几何形状,使得用户可以对使用常规相控阵技术获得的缺陷特性进行验证,有效改进了以前对于缺陷图像“解读难”的问题。TFM重建模式大像素为1024×1024,可以同时动态呈现4个TFM视图。新加入的16比特A扫描、插值和平滑等功能以及10.6英寸的WXGA显示屏,都使图像更加清晰可见,使得检测人员的工作更加直观、准确。 

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