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B1S-EN探头

产品时间:2024-05-19

简要描述:

德国KK美国GE超声波探头贝克休斯B1S-EN探头,B1S探超声波探头,用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷锻件、铸件、金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料、板材、棒材、方形材、容器、机器零件、壳体

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B1S-EN探头


B..S系列


A=30mm

B=59mm

C=45mm

D=29mm


系列

型号

频率

(MHZ)

接口方向

带宽

晶片直径

接口类型

保护膜

BS

B1S-EN

1

侧装

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

顶装

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5



















B1S-EN探头应用

用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷

锻件、铸件

金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、机器零件、壳体

特点

纵波单晶探头

适合DGS缺陷评判

性能参数误差小,适合高精度检测

可更换保护膜,保护探头不被磨损

柔性保护膜,即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合

合金压铸壳体,坚固耐用

用于高温检测时可加装高温延迟块(定制产品)



B1S-EN探头

B1S-EN探头


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