Olympus45MG测厚仪奥林巴斯金属腐蚀壁厚仪高温测厚

应用

检测金属管道中的内壁减少情况。

背景

局部墙壁减少并不总是由腐蚀引起。在板材轧制期间或在管材制造过程中形成的初始阶段可以产生壁减少。钢中的印模可以通过成形辊产生。施加到成形辊的高表面压力和热量会引起剥落。剥落并从辊子上脱离的金属片可落入进入板的路径中，使得片件粘合到辊子上。一旦碎片与辊子结合，就会在被轧制的板材中开始出现印痕。因此，由辊引起的印模的术语伪影看起来类似于由腐蚀引起的壁减少。

在许多情况下，新管道将投入使用此类工件。当管道运行后再进行腐蚀检查时，检查人员可能会发现这些墙壁减少伪影并将其误认为是腐蚀单元。如果发生这种情况，工艺工程师可能会推断出不正确的腐蚀速率并导致不正确的工艺变化和/或化学添加 然而，简单的超声测量程序可以在制造或安装阶段识别伪影。

设备

型号38DLP PLUS厚度计，或带波形显示选件的45MG型应变计，以及D790双元件传感器（5 MHz）。

例

下图中的管道是采用ERW工艺制造的8“x .250”壁碳钢1018等级。深色凹痕是减少在管道形成过程中发生的壁厚的伪影。ID或OD上没有腐蚀。

厚度测量以与腐蚀测量相同的方式进行。在左图中，量具读取全壁厚度。在右图中，较薄的读数表示内表面上的壁变薄伪影。

在试图区分制造工件和腐蚀电池时，检查员可能会考虑以下因素：

• 确定管道是ERW还是无缝管道。
• 确定墙体减少的方向是轴线而不是随机。
• 如果管道回路中的多个或所有接头都是ERW，请确定每个接头上的工件所在的线。检查员可能会发现线路相对于管道改变方位角位置。
• 如果发现电路中的管道连接是无缝的并且没有墙壁减少。

结论

可以通过超声波厚度测量来检测管道中的制造伪影。执行管道厚度测量的检查员应了解这种损坏机制。向过程工厂质量控制检查员通知该潜在问题以避免过高估计腐蚀速率也很重要。

对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量

使用双晶探头

45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度。这些应用中较常使用的是双晶探头。

• 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能
• 当校准过程中出现双回波时，会发出双回波警告
• 回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面
• 高温测量：温度可高达500 °C

B扫描成像（基于时间）

45MG仪器提供的B扫描功能，可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。在观察材料厚度在一定距离上发生的变化时，这个标准功能非常有用。探头一接触到材料表面，就会激活B扫描。冻结小值功能用于显示扫查区域的小厚度值。可选45MG数据记录器多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。

Olympus45MG测厚仪奥林巴斯金属腐蚀壁厚仪高温测厚

高温表面

45MG测厚仪配上D932系列探头（D790、D790-SM、D790-RL和D790-SL），是测量高温材料（温度高达500 ºC）的理想选择，并可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能，通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化，提高了在高温表面上进行测量的精确性。

回波到回波回波到回波/穿透涂层选项

测厚仪使用多个底面回波，显示不计涂层厚度的实际金属厚度：

自动回波到回波

手动回波到回波（仅出现于A扫描选项），

可进行以下操作：

增益调整

扩展空白

回波空白

调整*个回波空白的手动回波到回波模式          显示可选波形的穿透涂层模式

用于此应用的产品

38DL PLUS

38DL PLUS是一款高级超声测厚仪。这款仪器可使用双晶探头对内部腐蚀的部件进行检测。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂层）和回波到回波。还可以使用单晶探头对薄材料、厚材料以及多层材料进行非常精确的厚度测量。

45MG

手持式45MG是一款配置有各种测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款*的仪器与所有Olympus双晶和单晶探头探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。

产品规格：

标准包装

• 45MG数字超声波测厚仪
• AA碱性电池
• 两步试块和耦合剂
• USB电缆
• CD上的用户手册
• 测量功能：小/大 模式，两种报警模式，差分，模式，B扫描，降低率，可编程锁定

软件选项

• 45MG-SE（U8147022）：单元件选项，使用频率范围为2.25 MHz至30 MHz的单元件传感器。
• 45MG-HP（U8147023）：单元件高穿透选项使用频率范围为0.5 MHz至30 MHz的单元件传感器。
• 45MG-EETC（U8147021）： Echo-to-Echo和THRU-COAT®
• 45MG-WF（U8147019）：波形选项
• 45MG-DL（U8147020）：内部数据记录器，包括GageView接口程序

可选配件

• MICROSSD-ADP-2GB（U8779307）： 2 GB外部microSD存储卡
• 45MG-RPC（U8779 676）：带支架的橡胶保护套

Panametrics-NDT Microscan传感器经常与25系列和35系列厚度计以及其他市售厚度计，探伤仪和超声波仪器一起使用。

Microscan传感器部件号反映连接器的名称： 
RM =直角Microdot®SM 
=直式微棒 
RB =直角BNC 
SB =直式BNC 
SU =直式UHF

选择传感器时，请查看下面的图表或参考随您的量具附带的使用说明书中的传感器频率范围。

厚度计型号

传感器频率范围

45MG 
38DL PLUS

2.0到30 MHz

接触传感器

Panametrics-NDT Microscan接触式传感器的优势之一是其多功能性; 单个换能器可以覆盖许多工程材料的宽广的厚度范围。接触式传感器采用*的WC-5耐磨板构造，具有更高的耐用性和更长的使用寿命。

RM =直角微米; SM =直的微米; SB =直BNC 

SONOPEN®传感器

Sonopen®传感器具有一个可更换的延迟线，可以逐渐变细至较小的接触面积。这种传感器可以在诸如涡轮机叶片，塑料瓶颈上的螺纹以及塑料容器上的紧缩半径等应用中进行可靠的厚度测量。高温Sonopen延迟线也可用。

*使用高达350°F（175°C）的高温延迟

延迟线传感器

Panametrics-NDT Microscan延迟线传感器可在薄的材料，高温或需要高度厚度分辨率的应用中提供出色的性能。

可更换的延迟线

标准延迟线

标准延迟线用于许多应用中。诸如高表面温度，材料曲率或难以接近区域的特殊条件可能需要使用特殊的延迟线。

*精确范围取决于材料声速，传感器频率，零件几何形状和表面状况。

高温延迟线

高温延迟线用作测试片热表面和传感器晶体之间的保护性缓冲区。在温度升高的情况下，建议间歇式接触以保护传感器免受热损伤。